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YAMAHA YSI-S高速,高精度,混合式,离线光学外观检查装置AOI |
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“YAMAHA YSI-S高速,高精度,混合式,离线光学外观检查装置AOI”详细介绍
检查基板:L510*W460MM-L50*W50MM
检查速度:L330*W250MM的基板平均1张可达25秒 分辨率:可视光(红、蓝、绿)&红外光19UM/10UM(出厂前可选) 检查对象:固化后的焊锡及元件的状态 |
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